美国AXOMETRICS轴测偏光测定设备用于多波长延迟片／相位差板（In Plate or Out of Plate）测量

♦ Axometrics偏光测定仪，为目前偏极化量测中*快速的测量系统。

♦ 快速测量快轴方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延迟（Retardance）、偏光（Polarization）。

♦ 线性/椭圆/圆形的偏极化测量

♦ 多波长Retardance频谱的RO(400-800nm)

♦ 快速测量Biaxial Films Ro、Rth和 B。

♦ 具有旋转／倾斜机构，于测量时旋转角度可**掌握。

♦ 无须裁切待测物（Sample)

♦ 操作容易的软体介面

♦ 客制化测量模组组合

♦ 配合CCD影像系统及光学镜头，可测量各样品中微观区域内的各项参数

应用范围

♦ 多波长延迟片／相位差板（In Plate or Out of Plate）测量

♦ 偏光片（板）测量多层膜（Ro,Rth，B）

♦ 快轴方位角度测量（Fast Axis Orlentatlon)

♦ LCOS晶圆Retardance和电压特性关系的测量

♦ 液晶（LCD）、LCOS Cell Gap的测量。

♦ 液晶（LCD) Pretlltangle 的测量

♦ 3D Film的测量。（FPR)

♦ 多面向的LCD的量测（PSVA Multi一Domain)

Poincare sphere 显示可更清楚的了解光的偏极化状态可量测出不同波长(400-800nm)下的相位差值波长的分散性。

Rth 值测量差距时具有可调控之校正机制，精密度高。

高速的测量可帮助各种补偿膜的发展研究。