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产品详情
简单介绍:
日本Otsuka大塚分光干扰式厚度计SF-3四川成都西崎供应
以非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测定
日本Otsuka大塚分光干扰式厚度计SF-3四川成都西崎供应
详情介绍:
製品情報
特 長
- 非接触、非破壊で厚み測定が可能
- 反射光学系(片側からのコンタクトで測定が可能)
- 高速性(*速5kHz)且つリアルタイム評価が可能
- 高い安定性(繰返し精度 0.01%以下)を実現
- 粗さやハイドープに強い
- 任意距離に対応が可能
- 多層構造に対応(*大5層)
- NGデータ排除機能を内蔵
-
距離(形状)測定が可能(組込センサー用付属オプション) *
*測定レンジ内の光学距離測定による
測定項目
- 厚み測定(5層)
用途
- 各種ウェーハ厚み(Silicon、その他化合物ウェーハ)
- 各種 研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセス組込
- ウェーハ以外の厚膜部材厚み
半導体プロセスへの組み込み例
■ CMPプロセス
■ テンポラリーボンディング
■ バックグラインド
■ ウェットエッチング