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  • 产品名称：日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应

  • 产品型号：CR6300
  • 产品厂商：日立HITACHI
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简单介绍：
日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应 日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应
详情介绍：
供应日本日立HITACHI高速缺陷观测设备CR6300(Defect Review SEM)  的详细介绍

特长

  • 高画质，高对此，高解析度SEM图像
  • 高速缺陷摄像（ADR）
  • 人性化的GUI
＜选项＞
  • 自动缺陷分类（ADC）
  • Bare wafer自动观测
  • 检查制程说明书（iPQ）

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