产品名称：西崎贸易成都供应日本ONOSOKKI小野静电容量式微小位移传感器

日本 ONOSOKKI小野静电容量式微小位移传感器 VE系列  的详细介绍

日本 ONOSOKKI小野静电容量式微小位移传感器 VE系列

特长

• 不受被测物的颜色，表面粗燥度，反射率以及环境光线的影响。
• 非接触测量，对被测物体没有影响。
• 传感器结构简单经久耐用，适用范围广。
• 测量对象为导体时，材质不同也不需要进行再校准处理即可测量 （金属以外硅，碳化复合物，水面等也可测量）

 

构成

＊ VE系列静电容量式微小位移传感器可与VT-5200/5700系列非接触静电容量式位移计或CL-5610系列非接触静电容量式厚度计配套使用。测量对象与测量精度请参阅各产品的说明页面。

＊ 使用VE系列传感器时，为了补偿配套仪器的个体偏差，传感器与配套仪器（位移计或厚度计）需要1对1进行校准匹配，要变更交换使用其他传感器时（包括同型号）也要进行再校准。

 

测量对象

测量对象如是导体即可测量，例如以下材质物品。

金属板	铁，铝，钢等。
硅片	与金属同样测量。
铜箔基板	可以测量蚀刻处理前的两面铜箔基板的厚度。
膏状物体	高温烧成处理前的电池极板等膏状物体。
碳化材料板	各种碳化材料板状物。

测量时的注意事项

耐热绝缘铝材	经阳极氧化处理的耐热绝缘铝板，表面为绝缘膜测量会发生不稳定现象。
表面涂装材料	表面使用绝缘物进行涂装处理的材料，测量结果含有误差。
圆形物体	VE系列传感器是以测量平面物为前提的传感器，测量曲面时会产生误差。
表面粗燥物	表面粗燥物的测量结果，比较使用接触式测量的结果要小一些。使VE系列传感器测量结果等同于将表面的凹凸进行了平均，如果表面非常粗燥，有可能不能测量。
多孔状物体	如果被测物为多孔状物体，根据孔分布率测量结果小于实际数据。

绝缘体的测量

测量对象为绝缘体时，CL-5610系列非接触静电容量式厚度计配套CL-0300绝缘体测量软件（选配），可高精度测量绝缘体（玻璃，蓝宝石，水晶，塑料，塑料膜等）的厚度。

简要规格

标准型

型号	VE-5010	VE-1020	VE-1520	VE-3020	VE-8020
测量范围（μm）※1	50 ～ 500	100 ～ 1000	150 ～ 1500	300 ～ 3000	800 ～ 8000
外形（mm）※2	φ6	φ8	φ10	φ20	φ40
电缆长度	1.5m（电缆一体型）		信号电缆VL-1520/1521 1.5m （另购）
温度系数	k1＝1.7×10-5、k2＝3.4×10-5
使用温度范围※3	0 ～ +80 ℃

φ10mm通用基柱配套型

型号	VE-2011	VE-5011	VE-1021	VE-3021	VE-8021
测量范围（μm）※1	20 ～ 200	50 ～ 500	100 ～ 1000	300 ～ 3000	800 ～ 8000
外形（mm）※2	φ3	φ6	φ8	φ20	φ40
电缆长度	信号电缆VL-1520/1521 1.5m （另购）
温度系数	k1＝1.7×10-5、k2＝3.4×10-5
使用温度范围※3	0 ～ +80 ℃

※1 测量范围指传感器的测量面到被测物的*大间距。
※2 被测物的被测面积必须大于传感器的测量面的面积。
※3 使用温度范围指传感器可以测量使用的温度范围，不是确保传感器的直线性状态的温度范围。
   确保传感器的直线性状态的温度范围＋23 ℃±2 ℃。VE系列的温度特性请参阅[ VE传感器温度特性 ]的说明

 

配套信号电缆（另购）

 

●VL-1520（两端直型接头，电缆长度1.5 ｍ）
●VL-1521（L型接头 - 直型接头，电缆长度1.5 ｍ）

VE传感器温度特性

ΔＤ≒ −(K1×l + K2×D) Δt K1 ： 传感器壳体材料的线膨胀率（1.7×10-5） K2 ： 传感器电极材料的面膨胀率（3.4×10-5） Δt ：温度变化 D ：测量间距 ΔＤ ：测量值变化

●为了提高性能，可能不经预告而变更外形及规格，请谅解。